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OCT光譜儀成像需要使用更長的波長才能在單次掃描中探測到大于幾毫米的深度，但這帶來了與NIR探測器相關(guān)的高成本問題。為此，Wasatch Photonics 開發(fā)了一種創(chuàng)新的光譜儀設(shè)計，使我們能夠使用800 nm OCT實現(xiàn)高達(dá)12 mm的成像深度，這為在更寬的深度范圍內(nèi)進(jìn)行經(jīng)濟(jì)高效的特征測量開辟了新的可能性。受益于這種遠(yuǎn)程成像的應(yīng)用領(lǐng)域包括眼科、醫(yī)學(xué)，以及增材打印和激光加工的無損過程監(jiān)測。

用于寬場顯微鏡的高速熒光壽命成像能快速的細(xì)胞過程、移動的粒子和快速的圖像采集歷來是使用單光子計數(shù)技術(shù)進(jìn)行壽命成像的挑戰(zhàn)。寬場 FLIM 套件通過在寬場照明裝置中實現(xiàn)視頻速率壽命成像，解決了這些限制。該套裝將Pi Imaging的高分辨率SPAD512² 相機與PicoQuant的多功能脈沖激光器組合以及通過NovaLITE軟件進(jìn)行的GPU 加速FLIM分析結(jié)合在一起。

-使用 Luminosa、MicroTime 200 和 LSM 升級套件進(jìn)行成像分析 -基于GPU加速算法快速分析 FLIM、FLIM-FRET 和各向異性數(shù)據(jù) -對z-stacks、延時序列和拼接圖像進(jìn)行高效批量分析 -先進(jìn)、靈活的ROI處理 熒光壽命成像分析軟件NovaFLIM

快速掃描VIS-NIR-SWIR-MIR光譜儀是一款緊湊型、快速掃描的光譜儀。它采用基于時域傅立葉變換檢測的技術(shù)，可以極其精確地監(jiān)測光源的發(fā)射光譜，并測量吸收、透射或反射光譜。

緊湊型正置寬場光致發(fā)光顯微鏡在許多情況下，要對半導(dǎo)體或太陽能電池等材料進(jìn)行表征，需要以空間分辨率測量它們在各個點的光物理特性。根據(jù)樣品的不同，除了在不同點進(jìn)行測量外，在大面積樣品區(qū)域進(jìn)行掃描通常也很有意義。FluoMic 提供了一種快速、簡便、可靠的方法來測量穩(wěn)態(tài)（從紫外到近紅外）和時間分辨（從 ps 到 ms）發(fā)光，空間分辨率低至2 μm。