東隆集團(tuán)自研的光纖微裂紋檢測儀(OLI)是以白光干涉為原理, 利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。其測試長度由最初的6cm已升級至1m，我們研發(fā)工程師在攻克橫向測試長度升級的同時(shí)也在不斷研究拓展縱向探測深度，現(xiàn)在光纖微裂紋檢測儀(OLI)測試深度已由-80dB正式升級至-90dB。

圖1.低成本光纖微裂紋檢測儀(OLI)

下面我們用光纖微裂紋檢測儀（OLI）測試波分復(fù)用器，OLI能明顯測試出器件內(nèi)部-90dB附近反射峰值。

圖2.-90dB探測深度

本次，光纖微裂紋檢測儀(OLI)測量深度從-80dB新升級到-90dB，采用全新的光路設(shè)計(jì)以及更換鏈路模塊，完成這次-90dB測試深度升級，設(shè)備測試性能和穩(wěn)定性都有所提升，因此光纖微裂紋檢測儀(OLI)1m測試長度搭配-90dB的探測深度能更大程度滿足客戶測試所需。

光纖微裂紋檢測儀又稱低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)(OLI)，該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，可探測到-90dB光學(xué)弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

? 超高采樣分辨率和定位精度

? 超寬動態(tài)范圍

? 可定制引纖長度，便于匹配實(shí)際測量環(huán)境

? 可定制掃描測量長度

? 支持多通道測量升級

產(chǎn)品應(yīng)用：

? 光纖微裂紋檢測

? 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

? FA光纖陣列鏈路性能檢測

? 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測