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武漢東隆科技有限公司自研的高分辨率光學鏈路診斷儀（OCI）是基于光頻域反射技術（OFDR），單次測量可實現從器件到鏈路的全范圍診斷，并且能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。
據了解，光頻域反射技術（OFDR）測試插損方式是依據事件點兩側瑞利散射信號幅值差異，其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點。通常高分辨率光學鏈路診斷儀（OCI）插損測量動態(tài)范圍為18dB，反射式測量方式動態(tài)范圍為9dB。當待測鏈路中累積損耗超出9dB時，超出部分瑞利散射信號會被設備底噪淹沒，給測試帶來誤差。針對上訴情況，本文借助光纖環(huán)形器測試出大插損光鏈路單向累積損耗。
首先，測試樣品為可調光衰減器，借助環(huán)形器測試大插損裝置如圖1，將光纖環(huán)行器2端口接到OCI設備DUT口上，1端口和3端口分別與可調衰減器進出口連接。OCI設備輸出光從環(huán)形器2端口進入，3端口輸出，經過待測樣品后進入端口1，最后從端口2返回OCI儀器。
圖1.借助環(huán)形器測試大插損裝置示意圖
OCI測試整個光鏈路結果如圖2，距離-回損曲線在2.95719m位置出現最大回損峰值，對應整個光傳輸鏈路。由于OCI儀器默認顯示為反射式測量，而本鏈路中借助環(huán)形器是透射式測量，所以實際鏈路長度為顯示距離的兩倍5.91438m。同時，該位置積分回損為-25.69dB，是環(huán)形器和可調光衰減器單向累積損耗總和。
圖2.OCI測試環(huán)形器連接可調光衰減器結果圖
第二，使用OCI單獨測試光纖環(huán)形器，損耗測試裝置如圖3。
圖3.環(huán)形器損耗測試裝置示意圖
圖4.OCI測試環(huán)形器結果圖
測試結果如圖4，從圖中可以看出距離-回損曲線在1.86088m位置出現最大回損峰值（實際光纖環(huán)形器光鏈路長度為3.72176m），回損為-2.55dB，是環(huán)形器單向累積損耗總和?？烧{光衰減器插損為23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。
第三，使用功率計測試可調光衰減器插耗，測試裝置如圖5，測得可調光衰減器插耗為23.33dB，OFDR測量結果與功率計測量結果僅相差0.19dB。
圖5.功率計測試可調光衰減器損耗裝置示意圖
改變可調光衰減器插損，按照上訴方法分別用OCI和功率計測試可調光衰減器插損值，下表為10次測量可調光衰減器插損值對比表。
從對比表可以看出OCI和功率計測試可調光衰減器插損對比誤差不超過0.3dB，且OCI測試值均比功率計測試值大，這是由于功率計測試鏈路時，比OCI測試鏈路多一個FC法蘭。
因此，借助光纖環(huán)形器，高分辨率光學鏈路診斷儀（OCI）可以透射式測量大插損鏈路總體損耗，測試結果和功率計測試結果對比準確。不同于OCI反射式測量光纖鏈路分布式損耗，OCI透射式測量光鏈路損耗是測試整個光纖鏈路的累積損耗總和。OCI透射式測量插損準確性依賴OCI測試回損（RL）的動態(tài)范圍，動態(tài)范圍高達60dB以上時，可實現超出動態(tài)范圍的大插損光鏈路損耗測量，進一步擴展OFDR設備使用場景。
