光學(xué)鏈路診斷儀的原理基于光頻域反射技術(shù)，單次測量可實(shí)現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷。OCI可輕松查找并判別光纖鏈路中的宏彎、連接點(diǎn)和斷點(diǎn)，并精確測量回?fù)p、插損、光譜等參數(shù)，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)0.1mm。OCI不僅可用于光學(xué)鏈路診斷，還可拓展分布式光纖傳感功能，實(shí)現(xiàn)應(yīng)變和溫度高分辨測量。
 

　　當(dāng)我們在使用光頻域反射(OFDR)技術(shù)檢測光鏈路，不僅能獲得高空間分辨率的回波強(qiáng)度曲線，而且利用背向散射法測損耗可得到鏈路的沿線損耗情況及各個器件點(diǎn)的損耗。當(dāng)光鏈路中有兩路以上的分支時(shí)，各個分支的瑞利散射信號會混疊到一起，此時(shí)使用背向散射法就不能測試出各個分支光鏈路損耗情況。
 

　　背向散射法測損耗：
 

　　背向散射法是zhi定被測件DUT前一點(diǎn)的光功率作為測量回?fù)p(RL)的入射光功率，進(jìn)而獲得RL值。時(shí)域曲線包含光纖沿線損耗分布，插損值可通過DUT前后回?fù)p值計(jì)算得到，公式為：IL=(RL?-RL?)/2。以測量一根光纖跳線為例，在中間位置彎曲，測量結(jié)果如下：光頻域反射技術(shù)(OFDR)可通過背向散射法測量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個點(diǎn)的損耗。
 

　　光頻域反射技術(shù)(OFDR)可通過背向散射法測量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個點(diǎn)的損耗。
 

　　產(chǎn)品特點(diǎn)：
 

　　1、超高采樣分辨率和定位精度
 

　　2、超寬動態(tài)范圍
 

　　3、可定制引纖長度，便于匹配實(shí)際測量環(huán)境
 

　　4、可定制掃描測量長度
 

　　5、支持多通道測量升級
 

　　主要應(yīng)用：
 

　　1、光纖微裂紋檢測
 

　　2、硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測
 

　　3、FA光纖陣列鏈路性能檢測
 

　　4、光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測