背向散射法是一種被測件DUT前一點(diǎn)的光功率作為測量回?fù)p（RL）的入射光功率，進(jìn)而獲得RL值。時(shí)域曲線包含光纖沿線損耗分布，插損值可通過DUT前后回?fù)p值計(jì)算得到，公式為：IL=(RL?-RL?)/2。以測量一根光纖跳線為例，在中間位置彎曲，測量結(jié)果如下：光頻域反射技術(shù)（OFDR）可通過背向散射法測量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個(gè)點(diǎn)的損耗。

光頻域反射技術(shù)（OFDR）可通過背向散射法測量整段光纖的回?fù)p曲線，利用回?fù)p和插損之間的關(guān)系可以得到整條曲線各個(gè)點(diǎn)的損耗。

圖1. 背向散射法測量原理

如圖1所示，假定p0為設(shè)備出光口光功率，DUT前后測量位置為1、2，其對應(yīng)的光功率分別為P₁、P₂，對應(yīng)的散射系數(shù)分別為α₁、α₂，則其對應(yīng)的反射光功率分別為：Pr₁=P₁×α₁、Pr₂=P₂×α₂。

DUT的插損為：IL=-10lg （P₂/P₁）

看1、2處的回?fù)p分別為：RL₁=-10lg(Pr₁/P₀)、RL₂=-10lg(Pr₂/P₀)。當(dāng)1、2處光纖的散射系數(shù)相同時(shí)，可推導(dǎo)出IL=(RL₁-RL₂)/2（背向散射法是反射式測量，光信號往返兩次經(jīng)過DUT，因此除以2）。

使用OCI測試3dB耦合器損耗的裝置如下圖所示，將3dB耦合器的進(jìn)光口接入OCI儀器，進(jìn)光口和出光口光路的光纖長度都約為1m。

下圖為使用OCI測試3dB耦合器的測試曲線，對紅線和黃線周圍10cm區(qū)域進(jìn)行積分可以看出，3dB耦合器前后位置的回?fù)p分別為-83.11dB和-86.58dB，因?yàn)槭欠瓷涫綔y量，光信號往返兩次需要除以2，因此測得的損耗為1.71dB，和實(shí)際情況不符。出現(xiàn)上述情況是由于2個(gè)出光路的反射信號疊加到不能單獨(dú)測試出每個(gè)分支的損耗情況。

3dB耦合器阻斷一路信號測試：

針對上訴出現(xiàn)的問題，改變測試裝置，如下圖所示，將3dB耦合器的一路出光分支打結(jié)，阻斷光信號，讓該出光路沒有反射信號，在使用OCI分別測試，斷開出光口光路1和光路2。

下圖為測試曲線圖，按照先前回?fù)p測試方法可以得出3dB耦合器的2個(gè)出光路插損分別為3.18dB和2.98dB，2個(gè)出光路的實(shí)際分光比為49.1:50.9，經(jīng)計(jì)算可得實(shí)際損耗為3.09dB和2.93dB，測試結(jié)果和實(shí)際相符。

圖5. OCI斷路法測試3dB耦合器曲線圖

其他比例耦合器阻斷一路信號測試：

按照上訴測量方法，分別測試1:9耦合器和2:8耦合器的損耗情況。1:9耦合器的2個(gè)出光路插損分別為10.17dB和0.60dB，2個(gè)出光路的實(shí)際分光比為9.3:90.7，經(jīng)計(jì)算可得實(shí)際損耗為10.32dB和0.42dB，測試結(jié)果和實(shí)際相符。

圖6. OCI斷路法測試1:9耦合器曲線圖

2:8耦合器的2個(gè)出光路插損分別為6.99dB和1.05dB，2個(gè)出光路的實(shí)際分光比為19.4:80.6，經(jīng)計(jì)算可得實(shí)際損耗為7.12dB和0.94dB，測試結(jié)果和實(shí)際相符。